【概要】
　　● 半導体試料の基礎物性評価装置です。
　　● 試料をセット後は、付属PCからの自動制御にて測定が実行され、　　　
　　　　抵抗率・キャリアータイプ・キャリアー濃度・移動度の演算結果が表示されます。
　　● ばね板プローブにより電気接触を確保する方式ですので、ワイヤホンダは不要です。
　　● 研究内容、ご使用の状況に合わせて、設計製作いたします

【特長】
　　● van der Pauw法による測定
　　● 試料交換が容易
　　● 漏れ磁束の少ない永久磁石ユニットによる磁場印加
　　● パラメーター設定後は端子切替・磁場反転などを含み、全て自動測定
　　　　・ 自動でオーミック特性を確認
　　　　・ 制御プログラムにより測定時定数を自動調整
　　　　・ すべてのデータをテキスト形式で保存

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